1．Ad-hoc测试技术
特定目标可测试性设计技术（Ad-hoc）是一种早期的DFT技术，它是针对一个已经成型的PCB设计中的测试问题。这种技术的主要基本思想是：通过添加选择器来访问内部电路，以增强其可控性和可观测性；添加逻辑门电路来控制内总电路以增加其可控性；在需要的地主增加观测点。

2．扫描技术
PCB中一般都包括了时序逻辑和组合逻辑两部分。组合逻辑使现有测试技术能较好地测试生成；而时序逻辑电路的测试生成，由于时序电路往往很复杂，因此很难获得足够令人满意的测试程序。扫描结合测试向量自动生成技术，通过将电路中难以测试的时序元件转化为可串行输入和输出的可扫面单元，从而从可测试性的角度来看增加了许多可控制点和观测点，极大地提高了整个PCB的可观测性。

3．内建自测技术（BIST）
内建自测设计技术的基本思想是不需要外产来施加测试向量，由电路自己生成测试向量，依靠自身来决定获得的测试结果是否正确。这种方法通过PCB内部集成少量的逻辑电路来实现对集成电路的测试。随着集成度的提高，集成电路工程不再在乎BIST逻辑所占用的电路或芯片面积，因而内建自测设计技术广泛地应用于现代集成电路中。这种测试方法还被认为是解决测试仪器开发周期长、费用高的有效方法之一。